沙特阿卜杜拉國王科技大學韓宇來所作70周年所慶學術報告

  8月22日,沙特阿卜杜拉國王科技大學韓宇教授應邀在我所作了題為“Advancing High-resolution TEM Imaging of Electron Beam-sensitive Materials from Impossible to Routine”的70周年所慶學術報告。所長劉中民主持報告會,并向韓宇頒發了所慶學術報告獎牌。我所科研人員和研究生近70人參加了報告會。

 

  在報告中,韓宇詳細介紹了其研究團隊開發的一種最新的低劑量高分辨透射電鏡成像技術,對電子束敏感材料進行原子級高分辨透射電鏡成像和分析。他以Uio-66、MIL-101、NU-1000、ZIF-8等MOF材料為實例,講解了這種成像和分析技術在研究電子束敏感材料的微觀結構、結構缺陷、客體分子、表界面微觀原子排布等方面的強大優勢;通過Mo/ZSM-5實例,描述了這種技術在研究分子篩孔道中客體分子分布的潛在可能。報告后,韓宇和與會人員進行了熱烈討論,對提出的問題一一做了詳盡的解答,為以后的交流與合作奠定了良好的基礎。(文/劉曉娜、馬超 圖/田鵬)

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